可控硅综合参数测试

 概述

本试验设备可对大功率SCR器件的电气特性参数进行测试，该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高，系统的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进自动测试。测试方法符合 JB/T7626-2013 中的相关标准。

本设备采用计算机自动控制系统，后台软件实时监控、自动处理目标数据，具有测试精度高、操作方便、高效等优点。

通过计算机系统可对测试的结果数据进行保存，并且以excel文件形式输出保存。或直接连接打印机系统输出标签合格证，系统安全可靠，运行稳定。

该设备采用研华工业计算机控制，装有美国高速高精度NI-6221数据采集卡，通过LabVIEW软件编程，人机界面友好，操作简单，直观，夹具部分机械动作，安全防护等采用PLC自动化控制系统，有效保障操作人员的安全。

w 环境温度：5～35℃；

w 相对湿度：20%-70%；

w 大气压力：86Kpa～106Kpa；

w 电网：单项 220V±10%无严重谐波

w 电网频率：50Hz±1Hz；

w 电网功率：小于5KW

功能及技术规范

1、该套测试设备主要由以下几个单元组成：

u 门极触发参数测试单元 

u 维持电流测试单元

u 通态电压参数测试

u 阻断参数测试单元

u 断态电压临界上升率DV/DT

u 通态电流上升率：DI/DT

u Di/dt

u 自动热稳态压力夹具

u 计算机控制系统

可控硅综合参数测试
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